EPCOS电解电容的寿命影响因素分析:
除了非正常的失效,电解电容的寿命与温度有指数级的关系。因使用非固态电解液,电解电容的寿命还取决于电解液的蒸发速度,由此导致的电气性能降低。这些参数包括电容的容值,漏电流和等效串联电阻(ESR)。
参考RIFA公司预计寿命的公式:
PLOSS = (IRMS)2x ESR (1)
Th = Ta + PLOSS x Rth (2)
Lop = A x 2 Hours (3)
B = 参考温度值(典型值为85 ℃)
A = 参考温度下的电容寿命(根据电容器直径的不同而变化)
C = 导致电容寿命减少一半所需的温升度数
从上面的公式中,我们可以明显的看到,影响电解电容寿命的几个直接因素:纹波电流(IRMS)和等效串联电阻值(ESR)、环境温度(Ta)、从热点传递到周围环境的总的热阻(Rth)。电容内部温度较高的点,叫热点温度(Th)。热点温度值是影响电容工作寿命的主要因素。而下列因素又决定了热点温度值实际应用中的外界温度(环境温度Ta), 从热点传递到周围环境的总的热阻(Rth)和由交流电流引起的能量损耗(PLOSS)。电容的内部温升与能量损耗成线形关系。